ABOUT SEMS
주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)는 시료에 대한 표면의 외상 및 성분에 대한 구성원소의 정성 및 정량분석이 가능한 장비임.
■ SEM
1.Model : CX-100
2. Magnification : x30 ~ x300000
3. Image : Secondary electron image (SEI)
4. Accelerating voltage : 0.5KV ~ 30KV
5. Electron gun : W (Tungsten) Pre-align cartridge filament
| 기본 사양 | |
|---|---|
| 모델명 | CX-100 SEM |
| 제작국가 | 대한민국 |
| 내용연수 | 0년 |
| 이용 정보 | |
| 취득일 | 2012-05-18 |
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장비 관리자 1