ABOUT SEMS
연구장비
기타 지역
사용가능
주사전자현미경
주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)는 시료에 대한 표면의 외상 및 성분에 대한 구성원소의 정성 및 정량분석이 가능한 장비임.
CX-100 SEM
장비 설명
주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)는 시료에 대한 표면의 외상 및 성분에 대한 구성원소의 정성 및 정량분석이 가능한 장비임.
주요 특징
- ZEUS 관리번호 NFEC-2013-06-179636
- 사용형태: 연구
- 설치형태: 고정형
장비 구성 및 성능
■ SEM
1.Model : CX-100
2. Magnification : x30 ~ x300000
3. Image : Secondary electron image (SEI)
4. Accelerating voltage : 0.5KV ~ 30KV
5. Electron gun : W (Tungsten) Pre-align cartridge filament
1.Model : CX-100
2. Magnification : x30 ~ x300000
3. Image : Secondary electron image (SEI)
4. Accelerating voltage : 0.5KV ~ 30KV
5. Electron gun : W (Tungsten) Pre-align cartridge filament
기본 사양
모델명
CX-100 SEM
장비 구분(코드)
주장비
설치지역(관리)
기타 지역
제작국가
C65033
내용연수
0년
장비 용도
연구
이용 정보
사용형태
연구
설치형태
고정형
취득(예정)일
2012-05-18
취득금액
70,500,000원
표준분류체계
A A2 A206
장비활용 예시
전기화학 실험에서 Electrodeposition을 통해 만들어진 thin film의 표면의 형상을 고배율로 관찰를 확인할 수 있으며 기존의 기판의 표면을 분석하여 최적의 조건을 찾음.
예약 정보
설치위치
고려대학교세종캠퍼스
이용료
미지정
설치기관
기타 지역 - 고려대학교 산학협력단
담당자
강지원
연락처
044-860-5831
본 장비의 예약은 전화 문의
담당자 정보
보유기관 장비 관리자
설치기관 장비 관리자