ABOUT SEMS

연구장비

기타 지역
사용가능
주사전자현미경
CX-100 SEM
장비 설명

주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)는 시료에 대한 표면의 외상 및 성분에 대한 구성원소의 정성 및 정량분석이 가능한 장비임.

장비 구성 및 성능

■ SEM
1.Model : CX-100
2. Magnification : x30 ~ x300000
3. Image : Secondary electron image (SEI)
4. Accelerating voltage : 0.5KV ~ 30KV
5. Electron gun : W (Tungsten) Pre-align cartridge filament

기본 사양
모델명 CX-100 SEM
제작국가 대한민국
내용연수 0년
이용 정보
취득일 2012-05-18
예약 정보
설치위치
고려대학교세종캠퍼스
이용료
미지정

기관 규칙에 따른 할인이 적용될 수 있습니다.

설치기관
기타 지역 - 고려대학교 산학협력단
담당자 정보

장비 관리자 1

성명 강지원
부서/직위 공용장비지원센터 / 직원
유선 044-860-5831
본 장비의 예약은 전화 문의
주요 특징
  • ZEUS 관리번호 NFEC-2013-06-179636
  • 사용형태: 연구
  • 설치형태: 고정형