ABOUT SEMS
연구장비
기타 지역
사용가능
원자력 현미경
XE-100
장비 설명
Complete Atomic Force Microscope system for small and medium size samplesconsisting of completely decoupled XY & Z scanners using flexure guided scan systemfor all three axes closed/open-loop scan zero background curvature XY flexure scannerXE AFM scanning head direct on-axis optics high resolution digital CCD camera withdigital zoom motorized Z focus stage manual precision XY sample stage electronicscontroller software and cantilevers.Includes the followings;
장비 구성 및 성능
교차간섭 제거를 통한 아티팩트 없는 이미징
시료와 팁에 2개의 독립된 클로즈드 루프 XY 및 Z 플랙셔 스캐너 사용
전체 스캔 범위에서 2nm 미만의 평면 외 움직임
잔여 굴곡이 적은 최대 100μm x 100μm의 평면 선형 XY 스캔
고출력 스캐너로 최대 25μm의 Z 스캔
정확한 높이 측정
분당 0.5nm 미만의 낮은 표류도
| 기본 사양 | |
|---|---|
| 모델명 | XE-100 |
| 제작국가 | 대한민국 |
| 내용연수 | 0년 |
| 이용 정보 | |
| 취득일 | 2013-06-24 |
예약 정보
설치위치
고려대학교세종캠퍼스
이용료
미지정
기관 규칙에 따른 할인이 적용될 수 있습니다.
설치기관
기타 지역 - 고려대학교 산학협력단
담당자 정보
장비 관리자 1
본 장비의 예약은 전화 문의
주요 특징
- ZEUS 관리번호 NFEC-2013-08-181592
- 사용형태: 연구
- 설치형태: 고정형