반도체 박막 및 반도체 소자 등의 전기적 특성을 분석하는 장비로써 기본적으로 반도체 Device에 들어가는 반도체층, 절연막층, 도핑층들의 전기적 특성을 각각 확인하고 Device의 전체적인 전기적 특성까지 확인할 수 있는 측정 장치임.
B1500A
장비 설명
반도체 박막 및 반도체 소자 등의 전기적 특성을 분석하는 장비로써 기본적으로 반도체 Device에 들어가는 반도체층, 절연막층, 도핑층들의 전기적 특성을 각각 확인하고 Device의 전체적인 전기적 특성까지 확인할 수 있는 측정 장치임.
주요 특징
ZEUS 관리번호 NFEC-2015-01-195822
사용형태: 연구
설치형태: 고정형
장비 구성 및 성능
본체 하나로 일체형으로 구성되어 있으며 내부에 4개의 신호를 동시에 분석할 수 있는 SMU 모듈이 4개 설치되어 있으며, 매우 낮은 레벨의 전류와 Capacitance-Voltage, Capacitance-Frequency, Pulse 신호를 분석할 수 있는 부속이 설치되어 있어 추가 모듈 설치시 사용이 가능하다.
기본 사양
모델명B1500A
장비 구분(코드)주장비
설치지역(관리)기타 지역
제작국가C65073
내용연수0년
장비 용도연구
이용 정보
사용형태연구
설치형태고정형
취득(예정)일2009-12-03
취득금액35,325,111원
표준분류체계C C5 C514
장비활용 예시
MOSFET, TFT, Solar Cell 등 전기적 Device의 특성을 확인할 때 사용이 가능하며, 기본적으로 반도체, 절연막등의 단일막 전기적특성(I-V)을 확인할 때 사용하고 있음.