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연구장비
(재)세종테크노파크
사용가능
표면성분 분석시스템
1. 본 장비는 컴퓨터를 이용하여 Be부터 U까지의 광범위한 원소 분석이 가능한 전자동 순차분석 파장 분산형 엑스선 형광분석기이다.
2. 본 장비에서 사용하는 컴퓨터 전자동 조절 시스템은 정량, 정성 분석에 있어 시료의 교환, 분석단위 선택, 분석 조건 선택은 물론 데이터 처리 및 출력까지 처리가 가능하다.
3. 본 장비는 분말, 고체, 액상의 시료와 얇은 필름의 두께 및 농도를 측정할 수 있다.
ZSX PRIMUS IV
장비 설명
1. 본 장비는 컴퓨터를 이용하여 Be부터 U까지의 광범위한 원소 분석이 가능한 전자동 순차분석 파장 분산형 엑스선 형광분석기이다.
2. 본 장비에서 사용하는 컴퓨터 전자동 조절 시스템은 정량, 정성 분석에 있어 시료의 교환, 분석단위 선택, 분석 조건 선택은 물론 데이터 처리 및 출력까지 처리가 가능하다.
3. 본 장비는 분말, 고체, 액상의 시료와 얇은 필름의 두께 및 농도를 측정할 수 있다.
주요 특징
- 자체 자산관리번호 45-20-C002
- ZEUS 관리번호 NFEC-2020-06-263500
- e-Tube 관리번호 2005-B-0196
- 사용형태: 분석
- 설치형태: 고정형
- 시간당 44,000원 이용료
장비 구성 및 성능
1 . 엑스선 발생장치
2) 사용 전압 범위 : 20에서 60KV (1kV step) 또는 이상
3) 사용 전류 범위 : 5 에서 140mA (1mA step) 또는 이상
4) 최대 사용 전력 : 4KW 또는 이상
2) 사용 전압 범위 : 20에서 60KV (1kV step) 또는 이상
3) 사용 전류 범위 : 5 에서 140mA (1mA step) 또는 이상
4) 최대 사용 전력 : 4KW 또는 이상
기본 사양
모델명
ZSX PRIMUS IV
장비 구분(코드)
주장비
설치지역(관리)
(재)세종테크노파크
제작국가
C65182
내용연수
10년
장비 용도
분석
이용 정보
사용형태
분석
설치형태
고정형
취득(예정)일
2020-05-27
취득금액
423,958,440원
표준분류체계
C C6 C608
장비활용 예시
1. 분말, 고체, 액상 등 얇은 필름의 두께 및 농도 측정가능
2. 비정형시료 분석 가능
3. 4Be 부터 92U 까지 성분 데이터 취득 가능
4. 포인트 및 매핑 분석 가능
2. 비정형시료 분석 가능
3. 4Be 부터 92U 까지 성분 데이터 취득 가능
4. 포인트 및 매핑 분석 가능
예약 정보
설치위치
세종테크노파크
이용료
44,000원/시간
주소
30033 세종특별자치시 조치원읍 군청로 95
설치기관
(재)세종테크노파크
담당자
한형석
연락처
044-850-2162
담당자 정보
보유기관 장비 관리자
설치기관 장비 관리자