o 자동차부품 및 소재의 적용 범위의 결정, 공정품질평가, 불량분석을 위해 다양한 시료(박막, Powder, Bulk 등)에 대한 초미세형상분석, 정성분석, 열변화에 따른 시험분석에 필수적으로 필요한 장비
Quattro S
장비 설명
o 자동차부품 및 소재의 적용 범위의 결정, 공정품질평가, 불량분석을 위해 다양한 시료(박막, Powder, Bulk 등)에 대한 초미세형상분석, 정성분석, 열변화에 따른 시험분석에 필수적으로 필요한 장비
주요 특징
자체 자산관리번호 45-20-C003
ZEUS 관리번호 NFEC-2020-06-263498
e-Tube 관리번호 2006-A-0112
사용형태: 분석
설치형태: 고정형
시간당 61,000원 이용료
장비 구성 및 성능
○ SEM Electron Optics
- Source type : Schottky field emitter
- Probe Current : ≤ 200 nA, continuously adjustable
- Resolution :
기본 사양
모델명Quattro S
장비 구분(코드)주장비
설치지역(관리)(재)세종테크노파크
제작국가C65073
내용연수10년
장비 용도분석
이용 정보
사용형태분석
설치형태고정형
취득(예정)일2020-06-08
취득금액483,554,960원
표준분류체계C C6 C608
장비활용 예시
o 비전도성/전도성 시료의 고분해능 표면특성 및 성분 분석 가능
o 저온/고온(-25 ~ 950 oC) 환경조건에 따른 소재의 조직형상 및 성분 변화분석 가능
o 고분해능 주사전자현미경은 미세형상분석, 상(Phase)분석, 온도변화에 따른 시험분석이 가능한 장비로 지역내 자동차소재부품관련 기업을 대상으로 기술지원