ABOUT SEMS
o 자동차부품 및 소재의 적용 범위의 결정, 공정품질평가, 불량분석을 위해 다양한 시료(박막, Powder, Bulk 등)에 대한 초미세형상분석, 정성분석, 열변화에 따른 시험분석에 필수적으로 필요한 장비
○ SEM Electron Optics
- Source type : Schottky field emitter
- Probe Current : ≤ 200 nA, continuously adjustable
- Resolution :
| 기본 사양 | |
|---|---|
| 모델명 | Quattro S |
| 제작국가 | 미국 |
| 내용연수 | 10년 |
| 이용 정보 | |
| 취득일 | 2020-06-08 |
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장비 관리자 1